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选择高质量耗材，以实现一致的性能。这些经过现场验证的高质量圆锥可在低至检测限的水平完成可靠的高灵敏度 ICP-MS 分析。提供固体 Ni 结构或 Pt 顶端，从而明显增强耐用性并满足特定的分析需求。
- 由镍和铂制成的样品锥
- 由镍和铂制成的截取锥
- 铂，无硼截取锥（适合半导体相关应用）
- 具有不同通道长度的截取锥插件，以针对各应用定制仪器特性
采样锥
产品简介
选择高质量耗材，以实现一致的性能。这些经过现场验证的高质量圆锥可在低至检测限的水平完成可靠的高灵敏度 ICP-MS 分析。提供固体 Ni 结构或 Pt 顶端，从而明显增强耐用性并满足特定的分析需求。 由镍和铂制成的样品锥 由镍和铂制成的截取锥 铂，无硼截取锥（适合半导体相关应用） 具有不同通道长度的截取锥插件，以针对各应用定制仪器特性